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巖礦的成分測定與分析是地質工作的一個重要組成部分，它的研究對象主要是天然礦產，如巖石、礦物等；主要任務是利用一些技術手段(儀器分析、化學分析等)，對礦物巖石的成分在不同賦存狀態下的含量及其化學組成進行測定與分析。巖礦成分的測定與分析工作具有重要的意義，如何快速準確的發現巖礦并給與正確的評價，是廣大地質工作者的重要任務。可以說，巖礦成分的測定與分析工作與我國的社會主義現代化建設有著密不可分的聯系。巖礦分析系統是一類能使物體離子化，并通過適當的電場、磁場將它們按質荷比分離、檢測分...

煤巖分析系統是以應用煤巖學理論為基礎，可測定多個應用煤巖學指標，為合理優化配煤提供了有力的數據支撐，是入廠煤檢驗和優化煉焦配煤技術的有效手段！近年來，我國國民經濟的持續高速發展刺激了對鋼鐵的需求，同時也拉動了煉焦生產的高速度發展。焦炭產能的快速擴張導致煉焦煤供應緊張，煉焦煤價格大幅度升高，又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術的應用，對焦炭質量提出了更高的要求，致使煉焦煤供應更加緊張。同時，由于焦炭產能過剩，焦炭價格低迷。焦化行業面臨著煤炭資源供應緊張和經濟效益低下的雙重壓力，如何...

掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，由于它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。工作原理：掃描電鏡是對樣品表面形態進行測試的一種大型儀器。當具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時，電子與元素的原子核及外層電子發生單次或多次彈性與非彈性碰撞，一些電子被反射出樣品表面，而其余的電子則滲入樣品中，逐漸失去其動能，最后停止運動，并被樣品吸收。在此過程中有99%以上的入射電...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。掃描電鏡具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優點。掃描電鏡的主要結構：電子光學系統：產生高...

日本電子電鏡是一種用途廣泛的多功能儀器，具有很多*的性能，重要特點是景深大，圖像富立體感，具有三維形態。它可以進行三維形貌的觀察和分析，當然，還可以進行微區的成分分析等其他方面的應用。表面分析是指對材料的表面特性和表面現象進行觀察分析、測量的方法和技術，是掃描電鏡基本、普遍的用途。通常用二次電子成像，來觀察樣品表面的微觀結構、化學組成等情況。原子序數襯度是利用對樣品表層微區原子序數或化學成分變化敏感的物理信號，如背散射電子、吸收電子等作為調制信號而形成的一種能反映微區化學成分...

臺式電鏡SEM是一個相對年輕且發展迅速的產品。其實許多應用領域并不需要使用低于1nm的高分辨率掃描電鏡（SEM），10nm的分辨率是綽綽有余的。然而，由于材料特征點尺寸越來越小和觀測需求的增加，而且它的放大倍數可高達130,000倍。此類新型儀器的出現*光學顯微鏡與傳統大型掃描電子顯微鏡之間的空白區域，可廣泛應用于材料科學、納米顆粒、生物醫學、食品藥品、紡織纖維、地質科學等諸多領域。臺式電鏡SEM的樣品制備方法：1.佩戴無粉手套，使用鑷子把丁型樣品臺放置在制樣臺上（嚴禁在樣品...

在材料領域中，普通掃描電鏡技術發揮著重要的作用，被廣泛應用于各種材料的形態結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其生產過程，可以觀察金屬材料內部原子的集結方式和它們的真實邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式，還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。普通掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope），簡寫為SEM，是一個復雜的系統，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技...